Issues on view switching for RF SoC verification

Wang, Yifan; Joeres, Stefan; Wunderlich, Ralf; Heinen, Stefan

Piscatwa, NJ / IEEE (2008) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

BMAS 2008 : proceedings of the 2008 IEEE International Behavioral Modeling and Simulation Workshop : San Jose, California, September 25-26, 2008
Seite(n): 72-77